КНУТД
Київський національний університет технологій та дизайну

UA RU EN
Наші публікації Наукові статті Електронні пристрої та електротехнічні комплекси, комп’ютерно-інтегровані системи управління Електронний науковий журнал «Технології та дизайн» 2012-2

Особливості вбудованого самотестування і самовідновлення мікросхем пам'яті.

А.В. Комарницький

Стаття присвячена питанням підвищення коефіцієнта технічної готовності мікросхем пам'яті. запропоновано архітектура вбудованих засобів само тестування та відновлення, що дозволяє виконати заміну розряду даних основного масиву запам'ятовуючих осередків, в якому стався відмову, на дані, що надходять з виходів запасного масиву запам'ятовуючих осередків. Запропоновані апаратні засоби забезпечують автоматичну реконфігурацію даних мікросхеми при виявленні відмови. Завантажити.

Ключові слова: вбудоване самотестування, дешифратор рядків, аналіз надмірності, комірки пам'яті, кінцевий автомат.